
在本场专题讨论中,我们将进一步探讨电力硬件在环(PHIL)在推动电力系统测试迈向新高度方面所发挥的关键作用。受邀嘉宾将探讨PHIL技术面临的挑战与带来的优势,以及该技术如何被现代企业广泛采用——这些企业需要对被测设备(DUT)之间具有更高功率流的电力系统和电力电子元件进行测试与验证。

在本场专题讨论中,我们将进一步探讨电力硬件在环(PHIL)在推动电力系统测试迈向新高度方面所发挥的关键作用。受邀嘉宾将探讨PHIL技术面临的挑战与带来的优势,以及该技术如何被现代企业广泛采用——这些企业需要对被测设备(DUT)之间具有更高功率流的电力系统和电力电子元件进行测试与验证。