返回资源中心

基于继电器硬件在环测试平台的微电网保护测试

技术论文, Hardware-In-the-Loop (HIL), 电力系统

2021年9月1日

基于继电器硬件在环测试平台的微电网保护测试

由于运行条件、系统拓扑以及故障电流幅值和方向的多样性,微电网保护工作往往颇具挑战性。继电器的硬件在环(HIL)测试是验证微电网保护方案的一种方法。在此方法中,微电网虚拟模型与物理继电器进行实时交互。 本文介绍了一种继电器硬件在环测试平台的实现方案,用于测试此前针对实际工业级微电网提出的保护方案。该微电网采用OPAL-RT(HYPERSIM )和OP4510进行建模,并与工业级继电器进行接口连接。结果表明,所提出的保护方案成功检测并隔离了不同母线上发生的各类故障。

请登录以查看此内容