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Neuer Durchbruch bei HIL Tests mit vollständiger Topologie Tests Bordladegeräte

SHINRY

Automobilindustrie

06.04.2026

Neuer Durchbruch bei HIL Tests mit vollständiger Topologie Tests Bordladegeräte

Das Unternehmen

SHINRY Technologies Co., LTD. (im Folgenden als „SHINRY“ bezeichnet, Börsenkürzel: 300745.SZ) wurde 2005 gegründet, hat seinen Hauptsitz in Shenzhen und ist ein staatlich anerkanntes Hightech-Unternehmen, das sich auf Elektrofahrzeuge (EV), Brennstoffzellenfahrzeuge (FCEV) und High-End-Ausrüstung spezialisiert hat. Als Pionier im Bereich der Bordnetzstromversorgung verfügt SHINRY über vollständige unabhängige Rechte am geistigen Eigentum für seine Kerntechnologien, darunter Bordnetz-DC/DC-Wandler, On-Board-Ladegeräte (OBC) und integrierte Produkte, und beliefert weltweit führende Automobilhersteller.

Seit Juni 2025 arbeitet SHINRY gemeinsam mit OPAL-RT China an der Entwicklung einer umfassenden Hardware(HIL) für die gesamte Topologie von On-Board-Ladegeräten (OBCs), die hochfrequente zweistufige DC/DC-Schaltungen sowie bidirektionale dreiphasige OBC-Schaltungen aus Serienproduktionslinien abdeckt.

Als wir die dreiphasige LLC-Topologie des OBC mit herkömmlichen Simulationsplattformen testeten, war es schwierig, Resonanzanomalien bei hochfrequentem Schalten genau nachzubilden, was zu unbefriedigenden Ergebnissen führte. Die von OPAL-RT bereitgestellte HIL-Lösung kann den Simulationszeitschritt stabil auf 190 ns (mindestens 110 ns) halten, und die Erfassungsgenauigkeit von Totzeit-Effekten und Schaltverlusten kann bis zu 90 % erreichen.

Ingenieur:innen SHINRY

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Die Herausforderungen

  • High computation load: LLC + DCDC full-link models need <100 ns time steps, challenging simulator real-time capability.
  • Risiken bei Black-Box-Reglern: Eine intransparente Regelung und eine schnelle Schutzlogik können aufgrund geringfügiger Modellabweichungen Fehlalarme auslösen.
  • Genauigkeit der Schnittstelle: Die Wiedergabetreue bei Hochfrequenzsignalen, die Störfestigkeit und die synchronisierte Mehrkanalmessung sind von entscheidender Bedeutung.

 

Die OPAL-RT Lösung

Um diese Herausforderungen zu bewältigen, hat OPAL-RT China eineVorteil -Plattform auf Basis der neuesten FPGA-Technologie eingeführt:

  • Hardware: Die FPGA-Erweiterungseinheiten OP4800-IO, die auf der AMD Versal ACAP-Plattform basieren, bieten eine Abtastrate von 10 MSPS für analoge Ausgänge. Dies gewährleistet eine originalgetreue Wiedergabe von LLC-Stromverläufen mit einer Regelkreisreaktionszeit im Submikrosekundenbereich.
  • Software:eHS (FPGA-basierte Toolbox für Leistungselektronik) nutzt physikalische Modellierung anstelle von Schaltfunktionsmodellen und ermöglicht so eine schnelle Topologieänderung ohne langwierige Neukompilierung des HDL-Codes. Es unterstützt Schaltfrequenzen von bis zu 500 kHz bei einer Abtastauflösung von 625 ps und gewährleistet so eine hochpräzise Simulation von Resonanzverhalten und Schaltdynamik.
  • Automatisierte Tests: Die nahtlose Integration mit CANoe über offene APIs (Python/LabVIEW) ermöglicht die automatisierte Testausführung, unterstützt CAN FD mit bis zu 8 Mbit/s und erlaubt die unabhängige Steuerung von Hunderten von Relais für groß angelegte automatisierte Fehlerinjektion und Validierung.

Durch die Wiederverwendung automatisierter Skripte konnten wir einen erheblichen Teil der sich wiederholenden Arbeit einsparen und den manuellen Aufwand deutlich reduzieren. Früher dauerte Tests einzelnen OBC-Modells mindestens 30 Tage; nun hat sich dieser Zeitraum auf 20 Tage verkürzt. Sowohl die Testgenauigkeit als auch die Effizienz haben sich qualitativ verbessert.

Ingenieur:innen SHINRY

Die Ergebnisse

Die HIL-Lösung von OPAL-RT hat die Forschungs-, Entwicklungs- und Validierungsprozesse bei SHINRY grundlegend verändert:

  • Beschleunigte Entwicklung: Verkürzung des Tests für ein einzelnes OBC-Modell von 30 auf 20 Tage (eine Verbesserung um 33 %).
  • Frühzeitige Fehlererkennung: Es wurden fünf Arten versteckter Probleme beihardware identifiziert, bevor die Tests erreicht wurde.
  • Hohe Genauigkeit: Es wurde eine Genauigkeit von 90 % bei der Erfassung von Totzeit-Effekten und Schaltverlusten erreicht, wobei die Simulationsschritte nur 110 ns bis 190 ns betrugen.
  • Umfassende Testabdeckung: Es wurden vollständige Tests die Lade- und Vorladephasen sowie verschiedene V2X-Modi (V2G, V2L, V2V) durchgeführt, um die Zuverlässigkeit unter extremen Bedingungen sicherzustellen.
  • Skalierbar wiederverwendbares System: Die offene Schnittstelle ermöglichte die Wiederverwendung automatisierter Skripte, senkte die Einstiegshürde für Tests maximierte den langfristigen Nutzen.

 

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Warum ist die Echtzeit-EMT-Simulation bei kaskadierten H-Brücken-Mittelspannungs-Frequenzumrichter-Topologien eine Herausforderung?

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Welche Aspekte der Regelalgorithmen für Frequenzumrichter in Kraftfahrzeugen lassen sich mittels HIL validieren?

Kann ein einzelner HIL-Prüfstand mehrere Motortypen und Sensor-Rückkopplungsmodelle unterstützen?

Welche Arten von Fehler- und Schutzprüfungen können in einer simulierten Mittelspannungs-Frequenzumrichterumgebung validiert werden?

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