在开发一款新型软起动器解决方案时，由于面临大电流需求（高达六千安培）、多种拓扑结构以及测试台资源有限等制约，最终通过采用硬件在环（HIL）技术成功克服了测试挑战。 HIL技术将模型与真实硬件相结合，为设计和测试提供了一体化解决方案，实现了全面的测试覆盖和深入的问题排查。通过在数字孪生上进行系统且安全的破坏性测试，并将测试结果整合到非回归测试计划中，HIL技术简化了设计问题的复现过程，从而提高了产品质量并加速了开发进程。这一方法对项目的成功至关重要，确保了产品开发的高效与可靠。
在开发一款新型软起动器解决方案时，由于面临大电流需求（高达六千安培）、多种拓扑结构以及测试台资源有限等制约，最终通过采用硬件在环（HIL）技术成功克服了测试挑战。 HIL技术将模型与真实硬件相结合，为设计和测试提供了一体化解决方案，实现了全面的测试覆盖和深入的问题排查。通过在数字孪生上进行系统且安全的破坏性测试，并将测试结果整合到非回归测试计划中，HIL技术简化了设计问题的复现过程，从而提高了产品质量并加速了开发进程。这一方法对项目的成功至关重要，确保了产品开发的高效与可靠。