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NI技术日蒙特利尔站

2026年3月26日 | 08:00 - 19:00

加速测试与验证:探索最新NI硬件、软件及PXI创新技术

我们诚挚邀请您参加免费全天技术研讨会,重点探讨NI硬件、LabVIEW、PXI及数据采集技术的最新进展。

本次独家活动汇聚工程师、开发者及行业合作伙伴,提供为期整日的专家指导讲座、现场演示及实践学习。

无论您是想探索NI的最新创新成果、优化验证工作流程,还是提升生产测试效率,本次研讨会都将为您提供宝贵的见解和可立即应用的实际策略。

获取您所需的技术知识和实践指导,以实现测试系统的现代化改造、加速验证流程并提升生产效率。

市场活动的形象

类型

研讨会 | 培训课程

行业

电力系统

演讲嘉宾和议程

议程亮点

⚙️ NI硬件与软件创新:探索最新工具与功能
🧪 PXI平台验证与生产测试:提升测试性能与可靠性
📊 高级数据采集技术:增强测量精度与可扩展性
🖥 LabVIEW更新与功能:简化开发流程,缩短测试周期
🤖 测试软件自动化:提升效率,降低成本与复杂度
🎥 现场演示与专家研讨:见证真实应用与最佳实践

……以及来自NI专家和行业合作伙伴的更多见解。

完整议程

OPAL-RT Technologies

娜丁·哈里里

产品营销经理

娜丁·哈里里

乔纳森·布沙尔

软件开发工程师 NI

乔纳森·布沙尔

National Instrument | Emerson | TestForce

迈克·欧文斯

美国国家仪器公司区域销售经理

迈克·欧文斯

肖娜·L·雷

美国国家仪器公司首席产品经理

肖娜·L·雷

塔兰迪普·卡尔拉

TestForce 应用工程师

塔兰迪普·卡尔拉

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切勿错过探索NI最新创新成果的机会,立即预留席位,加入我们这场免费的全天技术研讨会!