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NI技术日蒙特利尔站
2026年3月26日 | 08:00 - 19:00
加速测试与验证:探索最新NI硬件、软件及PXI创新技术
我们诚挚邀请您参加免费全天技术研讨会,重点探讨NI硬件、LabVIEW、PXI及数据采集技术的最新进展。
本次独家活动汇聚工程师、开发者及行业合作伙伴,提供为期整日的专家指导讲座、现场演示及实践学习。
无论您是想探索NI的最新创新成果、优化验证工作流程,还是提升生产测试效率,本次研讨会都将为您提供宝贵的见解和可立即应用的实际策略。
获取您所需的技术知识和实践指导,以实现测试系统的现代化改造、加速验证流程并提升生产效率。

演讲嘉宾和议程
议程亮点
⚙️ NI硬件与软件创新:探索最新工具与功能
🧪 PXI平台验证与生产测试:提升测试性能与可靠性
📊 高级数据采集技术:增强测量精度与可扩展性
🖥 LabVIEW更新与功能:简化开发流程,缩短测试周期
🤖 测试软件自动化:提升效率,降低成本与复杂度
🎥 现场演示与专家研讨:见证真实应用与最佳实践
……以及来自NI专家和行业合作伙伴的更多见解。
OPAL-RT Technologies
产品营销经理
娜丁·哈里里
软件开发工程师 NI
乔纳森·布沙尔
National Instrument | Emerson | TestForce
美国国家仪器公司区域销售经理
迈克·欧文斯
美国国家仪器公司首席产品经理
肖娜·L·雷
TestForce 应用工程师




